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液體溫度沖擊試驗(yàn)箱

別稱：液體溫度沖擊試驗(yàn)箱,液體油槽式溫度沖擊試驗(yàn)箱

說(shuō)明：液體溫度沖擊試驗(yàn)箱用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內(nèi)溫度循環(huán)變化對(duì)產(chǎn)品的影響及產(chǎn)品性能變化。

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技術(shù)參數(shù)

一主要技術(shù)指標(biāo)及簡(jiǎn)要配置

液體溫度沖擊試驗(yàn)箱(液體油槽式溫度沖擊試驗(yàn)箱)用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內(nèi)溫度循環(huán)變化對(duì)產(chǎn)品的影響及產(chǎn)品性能變化。

產(chǎn)品名稱	液體溫度沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào)	WS-CJ-64L
裝載容量	64L
裝載重量	20kg
載冷劑（合成油）加注量	250L（雙槽）
提籃尺寸（WXDXH）	400X400X400 mm
液槽內(nèi)箱尺寸（單槽）（WXDXH）	550X700X600 mm
設(shè)備外形尺寸（WXDXH）	1650X1450X1550 mm
高溫槽溫度范圍	室溫+25℃～+165℃
低溫槽溫度范圍	室溫+25℃～-75℃
沖擊溫度范圍	-65℃～+150℃
溫度波動(dòng)度	≤±0.2 ℃
溫度偏差	≤±0.5℃
高低溫沖擊提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間	≤8S
溫度恢復(fù)時(shí)間	≤20秒
溫度恢復(fù)條件	滿載條件下，高溫浸泡（+150℃）30min，低溫浸泡（-65℃）30min
升溫速率	室溫升至+160℃≤60min（空載）
降溫速率	室溫降至-75℃≤80min（空載）
供電電源	三相五線制/380VAC，50Hz
裝機(jī)功率	12.5kW
工作噪聲	≯68dB(A)
冷卻方式	風(fēng)冷
制冷方式	斯特林二元復(fù)疊制冷系統(tǒng)（SMRC），加低溫冷頭，比傳統(tǒng)的二元復(fù)疊系統(tǒng)更加可靠穩(wěn)定，更加節(jié)能。
提籃驅(qū)動(dòng)單元	高可靠電動(dòng)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，采用臺(tái)灣的螺桿減速電機(jī)，運(yùn)行安全可靠。
熱傳導(dǎo)介質(zhì)	合成導(dǎo)熱油。價(jià)格高昂的進(jìn)口油分高低溫兩種，沖擊試驗(yàn)混合以后還要更換。我們的合成導(dǎo)熱油，同一種工質(zhì)，同時(shí)耐受高低溫，無(wú)需換油，在使用過(guò)程中，只需進(jìn)行少許的添加即可。
制冷壓縮機(jī)	制冷先鋒，歐洲谷輪蝶閥式壓縮機(jī) 穩(wěn)定可靠，效率比高
加熱系統(tǒng)	鎳鉻合金不銹鋼加熱器，專業(yè)廠家生產(chǎn)
溫度傳感器	高溫區(qū)、低溫區(qū)和產(chǎn)品區(qū)各有1個(gè)溫度傳感器，瑞典進(jìn)口A級(jí)Pt100
溫度變送器	瑞典INOR高精度溫度變送模塊
控制系統(tǒng)	Temi8229
可編程控制器	日本松下FP-X系列+自主開(kāi)發(fā)程序
觸摸操作屏	超大真彩7″觸摸屏+自主開(kāi)發(fā)界面全角度自由調(diào)節(jié)平臺(tái)，便于操控 WinCE操作系統(tǒng) 可提供C++、Labviw等全系列驅(qū)動(dòng)代碼，可以實(shí)現(xiàn)二次開(kāi)發(fā)。
產(chǎn)品附件	φ50mm引線孔1個(gè)，并配備配套硅膠軟塞、遠(yuǎn)程控制軟件，
試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/td>	高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)及沖擊試驗(yàn)，根據(jù)需要自由設(shè)定
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)	配備USB/R232接口，全部運(yùn)行數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)自由存儲(chǔ)，并可實(shí)現(xiàn)自由導(dǎo)出
遠(yuǎn)程控制	配備RS232接口，可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和控制
滿足標(biāo)準(zhǔn)	1、 GB/T10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2、GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3、GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4、GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 5、GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 6、GJB 150.3A-2009高溫試驗(yàn) 7、GJB 150.4A-2009低溫試驗(yàn) 8、GJB150.*-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 9、GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 10GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化